Электронная микроскопия

Сканирующий электронный микроскоп SEO-SEM Inspect S50-B
Сканирующий электронный микроскоп SEO-SEM Inspect S50-B предназначен для измерений линейных размеров, формы, ориентации и других параметров наноструктур и микрорельефа поверхностей различных объектов. Микроскоп SEO-SEM Inspect S50-B применяется для изучения нанохарактеристик:
- металлов и сплавов, их окисления / коррозии, сварки, полировки, анализа дефектов;
- магнитных материалов и суперпроводников;
- керамических, композитных и полимерных материалов;
- геологических разрезов, минералов;
- мягких материалов: полимеров, фармацевтических препаратов, фильтров, гелей, тканей, растительных материалов, волокн и др.
Ключевые преимущества:
- простой в использовании, интуитивно-понятное программное обеспечение обеспечивает высокоэффективную работу для начинающих пользователей;
- легко характеризует проводники и диэлектрические образцы;
- уменьшение времени на подготовку образца и получения изображения;
- стабильные токи высокого тока (до 2 мкА) обеспечивают быстрый, точный аналитический анализ
Электронно-оптическая система:
- как источник электронов в пушке используются вольфрамовый катод с термоэлектронной эмиссией;
- возможность электромагнитного регулирования апертуры пучка без установки блока механических диафрагм;
- функция автоматического выбора оптимального тока накала катода и автоматического выравнивания электронной пушки;
- октупольная конструкция стигматора, электромагнитная с функцией запоминания параметров стигматора для работы при различных увеличениях и ускоряющих напряжениях;
- электромагнитная система центрирования колонны;
- автоматическая подстройка тока электромагнитных линз и автоматическая система настройки электронно-оптической системы с возможностью ручной коррекции настройки.
Детекторы сигналов
- детектор электронов типа Эверхарта-Торнли;
- детектор вторичных электронов в режиме низкого вакуума (LFD);
- выдвижной детектор отраженных электронов с четырьмя квадрантами для регистрации сигнала по 4-х независимых каналах и возможностью работы в режимах топографического и фазового контрастов;
- ИК-камера для просмотра образцов в камере;
- детектор тока индуцированного электронным лучом;
- катодолюминисценция;
- EDS;
- WDS;
- EBSD;
- Nan-Cam - цветная оптическая камера.
Техническая спецификация | |||
1 | Разрешение | Высокий вакуум: | - 3 нм при ускоряющий напряжении 30 кВ - 8 нм при ускоряющий напряжении 3 кВ |
Низкий вакуум: | - 3 нм при ускоряющий напряжении 30 кВ - 4 нм при ускоряющий напряжении 3 кВ | ||
2 | Увеличение | плавная регулировка увеличения в диапазоне 6× до 1000000× без искажений и искривлений в всем диапазоне | |
3 | Ускоряющее напряжение | диапазон от 200 В до 30кВвозможность плавного регулирования ускоряющего напряжения | |
4 | Давление в камере | 9*10-4 Па | |
5 | Поле обзора | 24 мм при рабочем расстоянии 30 мм | |
6 | Рабочий ток | плавное изменение тока от 0 пА до 2 мкА встроенный пикоампермерт для измерения поглощения тока | |
7 | Вакуумная система | турбомолекулярный насос (70 л / с) и форвакуумный насос время откачки камеры менее 150 с при высоком вакууме, менее 270 с при низком вакууме | |
8 | Камера | - диаметр 284 мм - рабочая дальность 10 мм - 12 портов | |
9 | Столик | Моторизованный по трем осям - диапазон перемещений столика: Х 50 мм, Y: 50 мм, Z: 50 мм; - диапазон наклона: -15° до +75°; опционально: -90° до + 90°; - возможность непрерывного вращения образца (360°); - поле обзора 6,5 мм при рабочем расстоянии 10 мм | |
10 | Система управления | - 32-бит Windows® XP (по запросу может комплектоваться ОС Windows 10) - клавиатура; - оптическая мышка; - один / два 24 "LCD-дисплей; - блок бесперебойного питания; - установлено программное обеспечение; - контрольная панель и джойстик |
Микроскоп SEO-SEM Inspect S50-B состоит из основной консоли, включая электронно-оптическую систему, камеру образцов, вакуумной системы, блока электроники, включая модули сканирования и обнаружения, и управляющего (серверного) компьютера с программным обеспечением. Гарантия - 2 года.




Просвечивающий электронный микроскоп SEO-TEM
SEO-TEM это новый 100 кВ электронный микроскоп . SEO-TEM имеет компьютерную систему управления, обеспечивающую гибкое управление всеми системами микроскопа. Высокие параметры , совмещенные с широким диапазоном функциональных возможностей и низкой ценой , обеспечивают успешное использование SEO-TEM в различных отраслях науки от биотехнологий до материаловедения.
Отличительные особенности:
- Оригинальный компактный дизайн
- Простота и удобство в управлении
- Автоматизация рабочих и настроечных режимов на базе промышленного процессора
- Цифровая система записи изображений в ПК на базе CCD камеры
Техническая спецификация | |||
1 | Разрешающая способность | Гарантированная | 0,5 нм |
Достижимая | 0,34 нм | ||
2 | Ускоряющее напряжение | 25 – 100 кВ | |
3 | Диапазон увеличений (электронных) | 100 крат - 400000 крат | |
4 | Диапазон увеличений (цифровых) | 100 крат – 1000000 крат |
Все системы микроскопа контролируются промышленной компьютерной станцией с помощью программного обеспечения SEO TEM Control (свидетельство о регистрации №27336), обеспечивающего:
- включение и выключение микроскопа с запоминанием параметров выбранного режима
- создание индивидуальных файлов и воспроизведение их при включении микроскопа
- авторежим управления вакуумной системой
- режим темного и светлого поля
- режим микродифракции
- zoom фокуса и яркости
- режимы юстировки микроскопа
- авторежим управления фотокамерой
- контроль координат стола
- Woobler высокого напряжения и тока объективной линзы
- возможность подключения цифровой системы записи изображений SEO SCAN
Дополнительные системы и оборудование:
- Вакуумная фотокамера на пластинах 6-9 см
- Автоматизированная система управления столом SEO-Stage Control
- Устройство наклона объектов
- Автономная система водяного охлаждения
- Расходные материалы для сервиса и эксплуатации микроскопа
- Оборудование для препарирования объектов

Растровый электронный микроскоп SEO-MicroScan
Растровый электронный микроскоп SEO-MicroScan предназначен для исследования рельефа различных объектов в твердой фазе и параметров микрорельефа поверхности.
При оснащении микроскопа рентгеновским микроанализатором возможно проведение элементного состава объектов методом рентгеновского микроанализа по энергиям квантов характеристического рентгеновского излучения.
Микроскоп может использоваться в следующих областях: материаловедении, геологии, биологии и медицине.
Техническая спецификация | |||
1 | Разрешающая способность в режиме ВЭ | 5 - 10 нм | |
2 | Рабочий отрезок | 5 - 40 мм | |
3 | Диапазон ускоряющих напряжений | 0.1 - 30 кВ | |
4 | Диапазон увеличений | 10 - 300000 крат | |
5 | Диапазон тока пучка | 1 пА - 1 мкА | |
6 | Перемещение объекта по осям X, Y, мм | X = ±40 мм, Y = ±40 мм, T = до +60°, R = 360°, Z = 8 - 35 мм | |
7 | Рабочий вакуум в камере объектов (вакуумная система на базе ТМН) | высоковакуумный режим | 1 x 10-5 Topp |
низковакуумный режим | 1-20 Topp | ||
8 | Время получения рабочего вакуума | 20 мин | |
9 | Готовность прибора к работе после смены объекта | 5 мин | |
10 | Потребляемая мощность | 220 В (±10%), 50/60 Гц, 2 кВА | |
11 | Водяное охлаждение | 2 л/мин, давление: от 0.05 до 0.2 МПа, температура: 20°±5° C | |
12 | Размеры главной консоли прибора (длина, ширина, высота) | 650 x 650 x 850 мм | |
13 | Масса | 200 кг |


Стационарная система охлаждения воды SEO-COOL для ЭМ
Стационарная система охлаждения SEO-COOL предназначена для обеспечения охлаждения, поддержки температуры и циркуляции воды через охлаждающее оборудование. Система используется на вакуумных приборах: электронных микроскопах, установок для напиливания и др., где используются вакуумные насосы, которые нуждаются в отводе тепла.
Система обеспечивает:
- поддержку заданной температуры воды с точностью ±0,5° C
- диапазон температуры, которая контролируется 12-35° C
- циркуляцию воды 9 л/мин.
Система имеет собственную емкость (10 л) для охлаждения воды. Система работает от электросети 220 В, 50 Гц и потребляет мощность 1 кВт. Система состоит из блока размером 500 х 500 х 700 мм, сетевого кабеля и комплекта водяных шлангов.
Запасные части и расходные материалы
Мы поставляем всё необходимое:
- для ремонта и сервисного обслуживания микроскопов
- оборудование и приспособления для препарирования
- расходные материалы
- материалы для препарирования